德國EPK N08 Cr 渦流測(cè)厚儀探頭0~80um
更新時(shí)間:2023-07-02
產(chǎn)品描述:德國EPK 測(cè)厚儀探頭N08 Cr是MiniTest 1100/2100/3100/4100的選配探頭,測(cè)厚范圍為0~80um,N08 Cr探頭是電渦流探頭,測(cè)試分辨率為0.1μm,用于銅鋁基體上鍍鉻層厚度測(cè)量德國EPK N08 Cr 渦流測(cè)厚儀探頭0~80um產(chǎn)品概述
德國EPK N08 Cr 渦流測(cè)厚儀探頭0~80um
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
德國EPK 測(cè)厚儀探頭N08 Cr是MiniTest 1100/2100/3100/4100的選配探頭,測(cè)厚范圍為0~800um,N08 Cr探頭是電渦流探頭,測(cè)試分辨率為0.1μm,用于銅鋁基體上鍍鉻層厚度測(cè)量。
展示圖
對(duì)比
規(guī)格參數(shù)Specs
型號(hào) | N08 Cr |
測(cè)厚范圍 | 0~80μm |
小測(cè)量面積 | 直徑5mm |
探頭類型 | 渦流探頭 |
低端分辨率 | 0.1μm |
EPK公司可提供適用于標(biāo)準(zhǔn)用于與特殊用途的多種測(cè)頭: ·F型測(cè)頭:應(yīng)用磁感應(yīng)原理,測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層,稱作磁性測(cè)頭。 ·N型測(cè)頭:應(yīng)用電渦流原理,測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層,稱作非磁性測(cè)頭。 ·FN型兩用測(cè)頭:同時(shí)具備F型和N型測(cè)頭的功能。
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